掃描電子顯微鏡（SEM）作為一種重要的高分辨率成像工具，在材料科學、生命科學、納米技術等領域中發揮著重要的作用。在選擇掃描電子顯微鏡的供應商時，不僅要考慮設備的性能和技術規格，還應關注廠商提供的售后服務質量。優質的服務可以確保設備的長期穩定運行，及時的技術支持和維修服務能夠有效降低設備的故障率和維護成本，為科研工作和生產過程提供堅實的保障。
杭州科賦機電設備有限公司成立于2011年7月，公司位于浙江省杭州市濱江區（高新區）江南大道3778號A座3樓，公司業務覆蓋浙江、江蘇、上海、安徽、福建、江西等省市，主要經營系列三坐標測量機、非標檢測試驗設備、自動化檢測集成軟件及配套硬件，亦是專業從事檢測儀器的設備集成商，公司憑借多年在材料力學、長度計量、化學分析、無損檢測等領域的從業經驗，為廣大的客戶提供了性能優良、精度高、性價優益的檢測儀器設備，公司有專業團隊，依托設備生產商的鼎力支持，為您提供推薦選型，幫助您的企業在選擇優益的技術完善您產品的可靠性檢測。
公司經營理念：
誠信是基礎、品質是保證、產品是核心、服務是未來；
站在使用者的角度去思考，為您提供優質的檢測設備；
站在經營者的角度去思考，為您企業的產品提供的檢測解決方案；
科賦公司的發展與未來離不開廣大新老用戶的支持與信任，誠摯的希望與您同心協力實現合作、共贏！
杭州科賦JSM-IT200掃描電子顯微鏡
■主窗口ーZeromag觀察ー
使用主窗口顯示的樣品架示意圖和光學CCD圖像*1，能尋找視野和定位分析位置。
■顯示譜圖和顯示元素顯示譜圖和顯示元素ーLiveAnalysis分析*2ー
通過顯示譜圖和顯示元素，能確認正在觀察中的視野的譜圖及主要元素。
■數據管理圖標數據管理圖標ーSMILEVIEW
TM
Lab數據集中管理ー按下數據管理圖標并顯示數據管理窗口后，從SEM圖像到分析，對全部數據能創建批量報告、
查看數據并重新分析數據。
JSM-IT200在完成樣品交換的同時，開始觀察需要的視野。
按照導航流程操作，也可以、方便、可靠地交換樣品。
■樣品交換導航
樣品交換導航是從打開樣品室到開始觀察過程中進行導航的功能。
■Zeromag
只需擴大光學圖像，就可以過渡到SEM圖像
Zeromag功能將與樣品臺位置關聯的樣品架示意圖、CCD圖像（光學圖像）和SEM圖像實現了聯動。可以直觀地尋找分析區域，只需放大光學圖像就可以過渡到SEM圖像，因而能防止弄錯觀察目標和樣品。
杭州科賦JSM-IT500掃描電子顯微鏡
性能
■利用Zeromag進行快速導航
■LiveAnalysis在圖像觀察過程中進行實時分析
■SMILEVIEWLAB能綜合管理SEM圖像&EDS分析數據
■、簡便的樣品交換導航
日常分析更迅速！更簡便!
從安裝樣品到生成報告，實時分析軟件使分析過程無縫連貫，作業速度更快，操作更加簡便。
■Zeromag
從樣品架示意圖或者CCD圖像上尋找視野和分析位置。
可以快速地尋找視野,簡便地預約多個視野連續分析的位置。
■LiveAnalysis（實時分析）
觀察過程中的EDS分析
在觀察過程中可以隨時實時顯示分析區域內的特征X射線譜圖、自動定性分析結果和主要構成元素。
還可以標記“Alert"到感興趣的元素上。
■數據集中管理軟件SMILEVIEWTMLab
通過數據管理圖標或獲取的數據一覽，顯示數據管理畫面后，可以重新查看或再次分析數據，還可以一鍵生成報告。
利用用戶日志也可以分別管理數據。由于數據相互聯動，進行重構也很簡單。
實現了光學圖像和SEM圖像的整合
■Zeromag
新功能尋找視野非常容易
順利到達高倍率觀察
新功能Zeromag將與樣品臺位置相關聯的樣品臺示意圖、CCD圖像和SEM圖像實現了聯動，可以從光學CCD圖像無縫過渡到SEM圖像，大幅度地提高了工作效率。
Zeromag的特點
?從光學圖像無縫過渡到SEM圖像
?可以在樣品上預先選擇多個分析點
?可以輕松回溯到已測試過的區域以作進一步的研究
蒙太奇
利用Zeromag可以自動簡便地進行大區域觀察及分析
蒙太奇是識別大區域上的異物和進行斷裂面分析等在大區域上獲取詳細信息的有效功能。
使用Zeromag功能,能很容易地選擇大面積的蒙太奇視野，同時還有內置的“傾斜校正"、“設定重疊視野"及“設定自動聚焦點"功能。
杭州科賦蔡司Sigma300系列掃描電子顯微鏡
擁有高品質成像和分析功能的場發射掃描電鏡
HDBSD探測器
高清晰度背散射電子探測器，在所有真空模式下，可對各類樣品進行出色的低電壓組份成像
智能并加速工作流程
Sigma300的4步工作流程可控制Sigma的所有功能。可快速獲取圖像，同時，節約在培訓上的時間。.
導航您的樣品，并為其設置的成像條件。
在樣品上定義感興趣區域，可自動實現在多個樣品上采集圖像。
獲得可關聯的可視化結果。
分析系統
在樣品上定義感興趣區域，可自動實現在多個樣品上采集圖像。
獲得可關聯的可視化結果。
掃描電鏡與要素分析相結合：
Sigma300的EDS幾何設計能夠增強分析能力，尤其是對電子束敏感的樣品。
可實現在之前一半的束流下得到分析數據，同時測試速度比之前快一倍。
8.5mm的工作距離和35度的出射角，可得到沒有陰影區域的分析結果靈活的探測手段獲取高分辨率的圖像。
靈活的探測手段獲取高分辨率的圖像
使用探測器技術描繪您的所有樣本。
使用新型的ETSE二次電子探測器及用于高真空狀態下的InLense二次電子探測器可以獲得高分辨率的形貌信息。
VPSE和C2D探測器在各種壓力模式下都可以獲取清晰的圖像。
使用環形STEM探測器可以獲取高分辨率的傳送圖像。
使用四通道BSD探測器和釔鋁石榴石晶體探測器研究成分。